儀器.jpg "顯微鏡")
機(jī).png "萬 能試驗(yàn)機(jī)")
境試驗(yàn)箱.png "環(huán)境試驗(yàn)箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
測量機(jī)/x5.jpg "長度測量")
測儀器.jpg "表面光學(xué)檢測")
測量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測量")
偏光顯微鏡簡介
偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡，在地質(zhì)學(xué)等理工科專業(yè)中有重要應(yīng)用。凡具有雙折射的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來進(jìn)行觀察，但有些則不可用，而必須利用偏光顯微鏡。反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的必備儀器， 可供廣大用戶做單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。
它主要利用的原理是材料的各相異性(雙折射)以及光的偏振特性，在偏光顯微鏡中，設(shè)有上、下兩個(gè)偏光裝置——偏光片。這兩個(gè)偏光片允許通過的偏光的振動(dòng)方向是互相垂直的。當(dāng)自然光通過下偏光片時(shí)，留下了具有與下偏光允許方向一致的偏光。但這一偏光卻無法通過與之正交的上偏光片，所以在視域中我們將看到全黑的景象。若我們在上、下偏光片中置入一非均質(zhì)性的晶體，則透過下偏光片的偏光，在透過該晶體時(shí)，其偏振方向?qū)⑹芫w光性方位的影響而發(fā)生一定角度的偏轉(zhuǎn)。所以該偏光在到達(dá)上偏光片時(shí)，將不會(huì)與偏光片的方向垂直正交，于是便會(huì)有一定分量的光透過上偏光片，使我們在視城中看到亮光。如果這時(shí)我們把上偏光片旋轉(zhuǎn)一個(gè)角度，使其與透過品體的偏光垂直，則視域復(fù)歸黑暗，稱“消光”，上偏光片旋轉(zhuǎn)的角度則稱為“消光角”。均質(zhì)性晶體因不會(huì)引起偏光的偏轉(zhuǎn)，所以它是在上、下偏光互相垂直時(shí)消光。正是利用這些性質(zhì)，使我們可以區(qū)分寶石礦物是均質(zhì)性還是非均質(zhì)性;再或利用消光角的大小來鑒別非均質(zhì)性礦物的屬種。
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