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       ·         全新的智能型ZEISS O-SELECT數(shù)碼輪廓投影儀

在生產(chǎn)環(huán)境中，光學(xué)式和接觸式坐標(biāo)測量機(jī)正逐漸取代手動(dòng)測量設(shè)備，例如測角儀、量規(guī)和輪廓投影儀。然而，操作者對(duì)這些手動(dòng)量具的影響不容忽視。ZEISS O-SELECT可大大降低這種影響。由于其具有極高的自動(dòng)化程度及易于使用等特點(diǎn)，因此能夠快速地完成可追溯的、可重復(fù)的復(fù)雜測量。

僅需一個(gè)按鈕即可進(jìn)行批量測量

僅需按下一個(gè)按鈕，ZEISS O-SELECT即可對(duì)測量程序中的工件進(jìn)行測試。該系統(tǒng)可識(shí)別已定位的工件，并自動(dòng)加載相應(yīng)的程序。可自動(dòng)創(chuàng)建坐標(biāo)系。ZEISS O-SELECT可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦與自動(dòng)設(shè)置照明。這不僅減輕了操作者的工作量，也使測量過程不受操作者的人為影響，實(shí)現(xiàn)了良好的可重復(fù)性。如有需要，該測量機(jī)可自動(dòng)輸出可靠的測量結(jié)果或?qū)⑵渥鳛閳?bào)告進(jìn)行打印。

全自動(dòng)

1. 工件定位

2. 開始批量測量

3. 可重復(fù)的、可追溯的測量結(jié)果及自動(dòng)化輸出

應(yīng)用領(lǐng)域

無論用于汽車、電子或是塑料加工，ZEISS O-SELECT均可精準(zhǔn)地提供當(dāng)今工業(yè)環(huán)境下所需的簡易性和可靠性。數(shù)碼輪廓投影儀尤其適用于精準(zhǔn)檢測距離、半徑或角度的尺寸。通用的檢測工件包括沖壓件和彎曲件，或注塑件及激光切割工件。

·         自動(dòng)對(duì)焦

不準(zhǔn)確對(duì)焦可能會(huì)導(dǎo)致出現(xiàn)幾微米的測量誤差。操作者在手動(dòng)對(duì)焦時(shí)容易不經(jīng)意出現(xiàn)誤差。為了消除這種誤差因素，ZEISS O-SELECT可自動(dòng)識(shí)別待測工件的特點(diǎn)，并設(shè)置相應(yīng)的對(duì)焦平面。換而言之，可消除操作者的人為誤差。

遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)

標(biāo)準(zhǔn)的相機(jī)鏡頭基于中心透視原理：物體距離越遠(yuǎn)，傳感器上的成像越小。遠(yuǎn)心鏡頭則不同，它在物體進(jìn)行軸向移動(dòng)時(shí)不會(huì)改變成像的放大率。這意味著無論物體的距離遠(yuǎn)近，都可正確地測量其尺寸精度。

自動(dòng)提供最佳照明

光學(xué)測量的成功取決于照明是否正確。為了確保在最佳的光線下測量每個(gè)特征，ZEISS O-SELECT采用了可自動(dòng)調(diào)節(jié)的照明系統(tǒng)。該照明系統(tǒng)能夠針對(duì)每個(gè)特征自動(dòng)進(jìn)行設(shè)置，從而排除了所有操作者誤差。

1 八段雙環(huán)形燈，用于可變的反射光照明
2 同軸燈（可選）
3 透射燈，用于提供最大對(duì)比度

該照明系統(tǒng)由一個(gè)透射燈與一個(gè)雙環(huán)形燈組成，雙環(huán)形燈的兩個(gè)環(huán)各分為八段。透射燈以及雙環(huán)形燈每段的強(qiáng)度將自動(dòng)進(jìn)行設(shè)置，從而可根據(jù)工件的屬性和特征的定位情況實(shí)現(xiàn)最佳的對(duì)比度。

(可選)同軸燈

該光學(xué)系統(tǒng)也提供同軸照明。同軸照明推薦用于較深結(jié)構(gòu)的測量，使其免受陰影掩蓋的影響。

可以最快獲得測量結(jié)果

ZEISS O-SELECT的軟件將蔡司測量技術(shù)的專業(yè)知識(shí)與創(chuàng)新且簡便的操作方式完美結(jié)合。僅需按下按鈕即可進(jìn)行批量測量，不受操作人員影響。ZEISS O-SELECT軟件可輕松勝任單次測量和批量測量——該軟件易于理解，為操作者提供了明確的指導(dǎo)說明，同時(shí)也可減少操作者的工作量。

直接在圖像上測量

只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可獲得當(dāng)前所需的功能和信息。僅顯示實(shí)際需要的內(nèi)容。——這正是ZEISS O-SELECT軟件的基本理念。在進(jìn)行大多數(shù)測量時(shí)，您無需離開主窗口。您可直接在圖像上進(jìn)行測量，而無需跳轉(zhuǎn)多個(gè)子菜單。該軟件具有清晰的圖形和邏輯結(jié)構(gòu)，提高了操作的簡易性。此外，您亦可個(gè)性化地定義各個(gè)窗口的內(nèi)容。

通過觸摸屏控制

在觸摸屏上控制ZEISS O-SELECT，您將體驗(yàn)到前所未有的操作便利性。這意味著，在許多用途中您將無需再使用鍵盤和鼠標(biāo)。

僅需一個(gè)按鈕即可進(jìn)行批量測量

僅需按下一個(gè)按鈕，ZEISS O-SELECT即可對(duì)測量程序中的工件進(jìn)行測試。該系統(tǒng)可識(shí)別已定位的工件，并自動(dòng)加載相應(yīng)的程序。可自動(dòng)創(chuàng)建坐標(biāo)系。ZEISS O-SELECT可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦與自動(dòng)設(shè)置照明。這不僅減輕了操作者的工作量，也使測量過程不受操作者的人為影響，實(shí)現(xiàn)了最佳的可重復(fù)性。如有需要，該測量機(jī)可自動(dòng)輸出可靠的測量結(jié)果或?qū)⑵渥鳛閳?bào)告進(jìn)行打印。

全自動(dòng)的批量測量

1. 工件定位

2. 開始批量測量

3. 結(jié)果和報(bào)告

“Click & Pick”可實(shí)現(xiàn)簡便的單次測量

使用ZEISS O-SELECT測量機(jī)，您甚至能夠快速、簡單、可靠地測量沒有任何測量程序的未知工件。ZEISS O-SELECT可使用自動(dòng)設(shè)置高對(duì)比度和自動(dòng)對(duì)焦的圖像，以識(shí)別出例如圓形和直線等可能的元素。

當(dāng)您將鼠標(biāo)移至這些元素，您將獲得半徑、距離和角度等可能存在的測量特征。您可以使用鼠標(biāo)首次點(diǎn)擊（“Click”）以定義一個(gè)初始元素，然后再次點(diǎn)擊（“Pick”）選擇一個(gè)建議測量的元素。所有操作都非常直觀，可直接在圖像上選擇。測量值將顯示于尺寸標(biāo)注箭頭處。通過這種方式，您將獲得未知測量工件的全部所需尺寸。

單次測量和制定測量程序

1. 工件定位

2. 開始單次測量

3. 通過“Click&Pick”選擇測量特征

4. 結(jié)果和報(bào)告

5. 保存為一次測量

制定測量程序

單次測量和批量測量僅一步之遙。按照與單次測量相同的方式在圖像上使用“Click & Pick”功能選擇所需的測量特征。無需掌握專門知識(shí)就可完全直觀地進(jìn)行編程，過程也非常有趣！在此期間，系統(tǒng)已在后臺(tái)生成了測量程序。您需要做的只是將其保存——一切就是如此簡單。

您可以通過集成在測量軟件中的報(bào)告工具ZEISS PiWeb對(duì)測量結(jié)果進(jìn)行記錄和評(píng)估。為了有效地進(jìn)行信息交流，我們提供了多種報(bào)告模板——從簡單直接的圖形報(bào)告到詳情報(bào)表。報(bào)告模板將幫助您毫不費(fèi)力且無需任何深入知識(shí)地制作報(bào)告。另一種尤其簡單的報(bào)告方式是一鍵式報(bào)告，僅需按下一個(gè)按鍵就可將當(dāng)前的顯示屏圖像輸出為報(bào)告。

智能、緊湊、可靠

ZEISS O-SELECT的軟硬件達(dá)到了最完美的匹配，從而確保以最佳的速度和可靠性對(duì)二維幾何形狀進(jìn)行測量。ZEISS O-SELECT結(jié)構(gòu)緊湊，堅(jiān)固耐用，可安裝于幾乎任何工作場所。您可以在任何所需地點(diǎn)準(zhǔn)確地測量您的待測工件——無論是進(jìn)貨檢驗(yàn)或生產(chǎn)測量。

1 高分辨率照相機(jī)

2 自動(dòng)對(duì)焦驅(qū)動(dòng)

3 ZEISS遠(yuǎn)心鏡頭

4 雙環(huán)形燈，各分為八段

5 同軸燈（可選）

系統(tǒng)組件

該系統(tǒng)由測量系統(tǒng)、觸摸屏鍵盤和ZEISS O-SELECT軟件組成。與內(nèi)置的小型顯示器相比，外接顯示器具有明顯的優(yōu)勢——更好的總體視覺和方向感以及更多的細(xì)節(jié)。其觸摸屏功能進(jìn)一步簡化了系統(tǒng)操作。ZEISS O-SELECT系統(tǒng)擁有專門為其開發(fā)的軟件，該軟件采用最新的創(chuàng)新方法。智能型的軟件不僅有利于經(jīng)驗(yàn)不足的操作者進(jìn)行操作，也能夠大大減輕專業(yè)操作人員的工作量。

可選同軸燈

該光學(xué)系統(tǒng)也可提供同軸照明。同軸照明推薦用于較深結(jié)構(gòu)的測量，使其免受陰影掩蓋的影響。