儀器.jpg "顯微鏡")
境試驗箱.png "環(huán)境試驗箱")
機.jpg "進口打標(biāo)機")
測量機/x5.jpg "長度測量")
測儀器.jpg "表面光學(xué)檢測")
測量機.jpg "三坐標(biāo)測量")
精研一體機產(chǎn)品介紹
徠卡EM TXP 標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測。
帶有一體化體視鏡，用于精確定位及對較細微難以觀察的目標(biāo)位置進行樣品處理時觀察；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄，可以改變樣品觀察角度，0°－60°可調(diào)，或者垂直于樣品前表面90°觀察，可利用目鏡刻度標(biāo)尺測量距離。
一體化自動程序控制
一體化自動程序控制，包括自動左右制動機制，前進反饋力控制，倒計數(shù)功能等，為使用者節(jié)約大量時間。
表面光潔度和標(biāo)靶檢測
表面處理與目標(biāo)檢測，都通過一體化體視鏡來完成，用戶不需要專程將樣品拿出來再進行表面觀察檢測，這可大大提高使用者的工作效率。
適配工具多樣性
可適配多種多樣工具，從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進行研磨，切割，鉆孔，打磨及拋光。并且整個處理過程都可通過體視鏡進行觀察監(jiān)控，大大節(jié)省時間和費用。
精研一體機技術(shù)參數(shù)
精研一體機標(biāo)準(zhǔn)配置
精研一體機可選配件
精研一體機相關(guān)視頻
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精研一體機資料下載
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精研一體機相關(guān)產(chǎn)品
儀器/日本Nikon顯微鏡/方JCM 6000臺式電子掃描顯微鏡.jpg "臺式電子掃描顯微鏡")
Leica EM VCT500真空冷凍傳輸系統(tǒng)可以在冷凍或常溫，真空或保護氣體條件下傳輸樣品。它可以連接您的工作流程系統(tǒng)，憑借主動樣品冷卻和全新的閥門概念優(yōu)化您的樣品傳輸，并在對接后在工作流程中隨時監(jiān)控樣品的溫度和真空度。
