儀器.jpg "顯微鏡")
境試驗箱.png "環(huán)境試驗箱")
測儀器.jpg "表面光學(xué)檢測")
Touch Probe 掃描探針產(chǎn)品介紹
圓柱形零件光學(xué)測量機
無與倫比的性能
光學(xué)和觸覺功能的結(jié)合，使轉(zhuǎn)動部件實現(xiàn)了完整的測量控制。
一個測量系統(tǒng)，多種選擇。
一個全新的軸測量功能，結(jié)合具體的光學(xué)技術(shù)方法和觸摸探針測量系統(tǒng)。
觸摸式探頭
Vicivision測量系統(tǒng)現(xiàn)在配備了一個Renishaw掃描探針，安裝在光源頂部。探針可以互換，覆蓋整個長度區(qū)域。
光學(xué)與觸覺結(jié)合
當光學(xué)測量系統(tǒng)快速提供靜態(tài)、幾何和螺紋測量、形狀和螺母測量時，觸摸系統(tǒng)檢測不可光學(xué)測量的特征。
光學(xué)和觸摸組合可測量：
軸向和總軸向跳動長度；平面度；垂直性
鍵槽寬度；鍵槽深度；鍵槽長度
Touch Probe 掃描探針技術(shù)參數(shù)
精度 | 重復(fù)性 | |
長度值 | 3,5 + L/200 μm | 1 μm |
跳動值 | 1.2 μm | 0.3 μm |
Touch Probe 掃描探針標準配置
Touch Probe 掃描探針可選配件
Touch Probe 掃描探針相關(guān)視頻
暫時不能提供，如需要詳細資料，請主動與我們聯(lián)系。
Touch Probe 掃描探針資料下載
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Touch Probe 掃描探針相關(guān)產(chǎn)品
測量機/x5.jpg "X系列微型工件測量機")
型號:X5X10
MTL X5和MTL X10是專門設(shè)計用于測量微型機械零件、牙科植入物、手表零件和通用微型零件的光學(xué)測量機。
這種高分辨率的機器甚至能檢測到最小的細節(jié)。它具備為各種需求而設(shè)計的測量工具：靜態(tài)測量、六角螺帽和螺紋分析。
這種高分辨率的機器甚至能檢測到最小的細節(jié)。它具備為各種需求而設(shè)計的測量工具：靜態(tài)測量、六角螺帽和螺紋分析。
測量機/Touch Probe.jpg "Touch Probe 掃描探針")
Touch Probe 掃描探針配備在Vicivision測量系統(tǒng)的光源頂部, 結(jié)合具體的光學(xué)技術(shù)方法和觸摸探針測量系統(tǒng)，使轉(zhuǎn)動部件實現(xiàn)了完整的測量控制?？蓽y量軸向和總軸向跳動長度、平面度、垂直性、鍵槽寬度、鍵槽深度、鍵槽長度。
測量機/Techno.jpg "<strong>Techno系列模塊化測量機</strong>")
測量機/M2M3-VICIVISION.jpg "M2M3軸類測量機")
