Touch Probe 掃描探針產品介紹
圓柱形零件光學測量機
無與倫比的性能
光學和觸覺功能的結合，使轉動部件實現了完整的測量控制。
一個測量系統，多種選擇。
一個全新的軸測量功能，結合具體的光學技術方法和觸摸探針測量系統。
觸摸式探頭
Vicivision測量系統現在配備了一個Renishaw掃描探針，安裝在光源頂部。探針可以互換，覆蓋整個長度區域。
光學與觸覺結合
當光學測量系統快速提供靜態、幾何和螺紋測量、形狀和螺母測量時，觸摸系統檢測不可光學測量的特征。
光學和觸摸組合可測量：
軸向和總軸向跳動長度；平面度；垂直性
鍵槽寬度；鍵槽深度；鍵槽長度
Touch Probe 掃描探針技術參數
精度 | 重復性 | |
長度值 | 3,5 + L/200 μm | 1 μm |
跳動值 | 1.2 μm | 0.3 μm |
Touch Probe 掃描探針標準配置
Touch Probe 掃描探針可選配件
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Touch Probe 掃描探針資料下載
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型號:X5X10
MTL X5和MTL X10是專門設計用于測量微型機械零件、牙科植入物、手表零件和通用微型零件的光學測量機。
這種高分辨率的機器甚至能檢測到最小的細節。它具備為各種需求而設計的測量工具：靜態測量、六角螺帽和螺紋分析。
這種高分辨率的機器甚至能檢測到最小的細節。它具備為各種需求而設計的測量工具：靜態測量、六角螺帽和螺紋分析。
Touch Probe 掃描探針配備在Vicivision測量系統的光源頂部, 結合具體的光學技術方法和觸摸探針測量系統，使轉動部件實現了完整的測量控制。可測量軸向和總軸向跳動長度、平面度、垂直性、鍵槽寬度、鍵槽深度、鍵槽長度。
